蔡康光學自行研發、設計、生產的半導體溫控台，采用碲化铋作爲 TEC 核心組件。高溫焊料使核心元件比市場同類型設備耐高溫阈值提升 80℃以上。使用陶瓷隔熱材料使台體本身厚度降低 20%。

1、主要用途：對變溫速度需求較高的溫度測試，對噪音、 震動、廢氣約束嚴格的溫度測試

2、最高變溫速度：2℃/s。

     3、现有產品特點：體積小 ，變溫速率高、無震動、低噪聲。

半導體冷熱台與各類顯微鏡、光譜儀、掃描電鏡等光學儀器設備聯用，進行變溫下的光學觀察及測試。

實現樣品開放式 / 氣密 / 真空環境下的變溫光學觀察及測試。可選擇腔室氣密\真空。

真空度可達 10^ −4 mbar。支持額外增加 4~8 路探針以進行不同溫度下的電學測試。

                                       組態屏控制界面